چکیده
اتصال الکتروفورز مویرگی ریز تراشه با اسپکتروسکوپی رامان افزایش سطح (MCE-SERS) موجب ترکیب قدرت بالای جداسازی الکتروفورز مویرگی با توانایی دستیابی به طیف لرزشی جهت شناسایی اجرا می گردد. طیف سنجی رامان یک روش تشخیص توصیفی است که به طور خاص برای آنالیز شیمیایی مناسب است چون غیر مخرب بوده و قابلیت شناسایی آنالیت ها را دارد. با این وجود نقطه ضعف آن حساسیت کم می باشد و حتی گاها به زمان های طولانی تری نسبت به پهنای پیک معمول جهت جداسازی های الکتروفورزی نیاز دارد. شدت رامان با نزدیک کردن آنالیت به سطح فلزات نانوساختار و یا کلوئیدها به شدت بهبود می یابد (علت اثر افزایش سطح). این مقاله رویکرد جدیدی در زمینه اتصال MCE-SERS بر خط ارائه می دهد. عنصر اصلی دستگاه میکروفلوئید شیشه ای پیشرفته یک ساختار دوزسنجی است که شامل دوکانال جانبی می شود. این دو کانال پس از جداسازی الکتروفورزی آنالیت ها به کانال MCE متصل می شود. کانال های دوزسنجی نانوذرات نقره (Ag-Nps) را به مناطق متفرقه الکتروفورزتیک ارائه می دهد. این مناطق ضبط از طیف SERS ترکیبات جداشده را آسان می کند. عملکرد تراشه MCE-SERS با آنالیز یک محلول مدل رودامین در 90 ثانیه با دستیابی به RSD زمان مهاجرت زیر 1.5% ارزیابی گردید. این رویکرد به طور موفقیت آمیزی برای تجزیه و تحلیل ریبوخلاوین افزودنی خوراکی در سس باربیکیو به کاربرده شد.
1. مقدمه
اسپکتروسکوپی رامان یک ابزار و تحلیل ارزشمند برای تشخیص شیمیایی ترکیبات بر اساس مشاهده تغییرات لرزشی ملکول پس از پراکندگی یر الاستیک فوتون های متقابل می باشد. با این وجود از آن جاییکه پراکندگی غیر الاستیک یک پدیده نادراست (به طور تخمینی 1 فوتون از 106 فوتون، سیگنال های رامان را فراهم می کند). اسپکتروسکوپی رامان دارای نقطه ضعف کمبود سیگنال است در اواخر دهه 1970 کشف شد که جذب آنالیت ها به نانوساختارهای فلزات نجیب منجر به بهبود چشمگیر حسایت با افزایش فاکتور تا 106-109 می شود. حتی حساسیت در حد یک ملکول نیز گزارش شده است [1,2]. این تکنینک که اسپکتروسکوپی رامان افزایش سطح (SERS) نامیده می شود اهمیت زیادی در شیمی تحلیلی مدرن دارد و همچنین در میکروفلوئیدها به کار می رود[3-10].
اثر SERS به طور گسترده حاصل ایجاد میدان مناطیسی در سطح نانوساختار فلزی پس از برهم کنش با فوتونهای دارای انرژی می باشد. واژه Hotspot (نقطه اشتراک) به فاصله بین دو (یا چند) نانوساختار اطلاق می شود که در آن نقطه میدان الکترومناطیس شدت می یابد و موجب ارتقا فاکتورهای افزایش می گردد.[8] در مورد نانوساختارهای فلزی که در منطقه تشخیص مستحکم شده اند، نقاط اشتراک با ایجاد ساختارهای دقیق (اغلب به صورت سلسه مراتبی) به دست می آید. [9]. روش های مبتنی بر نانو ذرات در محلول (NPS) پایه تجمع کنترل شده، معمولا افزایش قدرت یونی- به ویژه با افزودن کلریدها (مثلNaCl یا KCl) انجام می گیرد.
این مقاله در نشریه الزویر منتشر شده و ترجمه آن با عنوان طیف سنجی رامان بهبود یافته در سایت ای ترجمه به صورت رایگان قابل دانلود می باشد. جهت دانلود رایگان مقاله فارسی و انگلیسی روی عنوان فارسی (آبی رنگ) کلیک نمایید.
منبع:
Surface enhanced Raman spectroscopy in microchip electrophoresis
