| عنوان فارسی مقاله: |
اجزای مختلف برای میکروسکوپ نیروی اتمی با سرعت بالا |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Components for high speed atomic force microscopy |
چکیده
بسیاری از کاربرد ها در علوم مواد، علوم زندگی و کنترل روند ها از میکروسکوپ های نیروی اتمی ( AFM ها) با سرعت های بالا استفاده میکند. برای رسیدن به این هدف، عملکرد بسیاری از اجزای مختلف AFM ها باید افزایش پیدا کند. در این کار، تمرکز ما بر روی سنسور های پایه، قسمت اسکن کننده و قسمت اکتساب داده ها میباشد. ما در این قسمت سنسور های پایه با عرض 10um را ساخته ایم که فرکانس های رزونانس بالایی را با ثابت فنر پایین ترکیب میکند (160–360 kHz با ثابت فنر 1–5 pN/nm ) . برای قسمت اسکن ، ما اصول جدید اسکن را مبتنی بر پیزو های پشته ای (لایه ای) ایجاد کرده ایم که این شرایط به ما این امکان را داده است تا اسکنر هایی با گستره ی اسکن 15um را بسازیم در حالی که فرکانس رزونانس بالایی را داریم ( بیشتر از 10kHz) برای راه اندازی یک AFM با سرعت بالا و ثبت سیگنال های ارتفاع و خطا به صورت سریع، ما یک سیستم اکتساب داده ی سریع (DAQ) را مبتنی بر کارت های تجاری DAQ و رابط کاربری LabView را استفاده کرده ایم که میتواند 30 قاب در هر ثانیه را با تفکیک 150 x 150 پیکسل به دست بیاورد.
