| عنوان فارسی مقاله: | کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی در علوم زمین |
| عنوان انگلیسی مقاله: | Applications of scanning electron microscopy in earth sciences |
نمونه متن ترجمه
این مقاله اصل اساسی میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، ویژگیهای اصلی انواع تصویر و سیگنال های مختلف را تشریح کرده و به مرور کاربردها و چشم اندازهای آن در تحقیقات علوم زمین می پردازد. SEM با وضوح بالای نشر میدانی ، مشاهده و بررسی در جای یک ناحیه بسیار کوچک را امکانپذیر می سازند. با استفاده از SEM در حالت خلا کم ، می توان نمونه های عایق زمین شناسی را مستقیما بدون پوشش تحلیل کرد که این امر نشان دهنده چشم انداز کاربردی گسترده ای می باشد. SEM ترکیب شده با ردیاب به عقب رانده شده (BSE) ، طیف سنجی اشعه X پراکندگی انرژی (EDS) ، طیف سنجی کاتودولومینسنس (CL) و انکسار الکترون های به عقب رانده شده (EBSD) ، قادر به تهیه همزمان اطلاعات مختلف درباره نمونه های زمین شناسی مانند ریزساختار سطحی ، تحلیل CL ، تصویر BSE تحلیل مولفه و ویژگیهای ساختار بلوری می باشد. در این مقاله ، با استفاده از چند مثال به بحث درباره کاربرد SEM در زمین شناسی می پردازیم. تاکید می کنیم که تمرکز ما نباید فقط بر تحلیل تصویر CL باشد بلکه تقویت تحلیل های طیفی CL مواد معدنی را نیز باید در نظر گرفت. این نتایج به طور موثری نقص های شبکه کریستال مواد معدنی را آشکار کرده ، ترکیب عنصر را نشان داده و می تواند به بازسازی دقیق شرایط رشد مواد معدنی کمک کند.
